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DS3170DK DS3/E3 Single-Chip Transceiver Design Kit
High Impedance and Compensated Test Points
The test points for all the clock and data lines are unique for this board such that each test point listed in Table 3
have a relative high-impedance pin and a compensated pin. The compensated pin is part of a (20:1) voltage divider
that when used with the standard 50 ? load of an oscilloscope provides a very clean signal. If you are making
critical timing and or slew rate measurements, the compensated test points are very useful. Figure 2 shows the
relationship between the high-impedance and compensated test point pins.
Figure 2. Test Point Logical and Physical View
SIGNAL_X
R = 950 ?
1
1 = HIGH-IMPEDANCE PIN
2 = COMPENSATED PIN
3 = GND
1
2
C = 3pF
Table 3. Test Points
3
LOGICAL VIEW
2
3
PHYSICAL VIEW
REF
DES
TP5
TP6
TP4
TP20
TP19
TP10
TP12
TP16
TP17
TP19
TP22
SIGNAL
NAME
TCLKI
TCLKO
RCLKO
TLCLK
RLCLK
TOHSOF
ROHSOF
TOHCLK
ROHCLK
TSOFO
RSOFO
REF
DES
TP7
TP8
TP2
TP3
TP11
TP9
TP13
TP14
TP15
TP23
TP21
SIGNAL
NAME
TNEG
RNEG
TPOS
RPOS
TSER
RSER
TOHEN
TOH
ROH
REFCLK
TSOFI
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